배터리·ESS헬로디디
KAIST, 배터리 나노분석의 '가짜 신호' 원인 규명
KAIST 홍승범 신소재공학과 교수 연구팀은 육종민 교수팀, 최남순 생명화학공학과 교수팀과 공동으로 배터리 나노분석 과정의 측정 오류 원인을 규명하고 이를 줄이는 방법을 개발했다고 7일 밝혔다. 연구팀은 원자힘현미경(AFM) 기반 전기화학 변형 현미경(ESM) 분석에서 소재 표면이 울퉁불퉁할 경우 실제 이온 이동이 없어도 유사한 신호가 나타날 수 있다는 점에 주목했다. 이온이 이동하지 않는 단결정 실리콘 표면에 미세한 홈을 만들어 실험한 결과, 표면 높낮이 변화만으로 탐침과 시료의 접촉 상태가 달라져 이온 이동과 유사한 신호가 발생하는 것을 확인했다. 해결책으로 아르곤 이온 빔을 이용하는 냉각식 단면 연마기(CCP)로 배터리 소재 단면을 다듬자 표면 거칠기가 줄면서 측정 오류도 감소했다. 이번 연구는 한국연구재단 지원으로 수행됐으며, 결과는 국제학술지 '스몰 메서즈(Small Methods)'에 지난 6월 11일 게재됐다.
9월 7일